泰艺晶振,X7晶振,TO-8晶振,插件晶振

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泰艺晶振,X7晶振,TO-8晶振,插件晶振

频率：4-40MHZ

尺寸：15*6.5mm

加热包装材料至+150°C以上会破坏产品特性或损害产品。如需在+150°C以上焊接晶体产品，建议使用SMD产品。在下列回流条件下，对晶体产品甚至SMD产品使用更高温度，会破坏产品特性。建议使用下列配置情况的回流条件。安装这些产品之前，应检查焊接温度和时间。同时，在安装条件更改的情况下，请再次进行检查。如果需要焊接的晶体产品在下列配置条件下进行焊接，请联系我们以获取耐热的相关信息。

咨询热线：0755-27872782

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插件石英晶振最适合用于比较低端的电子产品,比如儿童玩具,普通家用电器,即使在汽车电子领域中也能使产品高可靠性的使用.并且可用于安全控制装置的CPU时钟信号发生源部分,好比时钟单片机上的石英晶振,在极端严酷的环境条件下,晶振也能正常工作,具有稳定的起振特性,高耐热性,耐热循环性和耐振性等的高可靠性能,由于在49/S形晶体谐振器的底部装了树脂底座,就可作为产品电气特性和高可靠性无受损的表面贴片型晶体谐振器使用,满足无铅焊接的回流温度曲线要求.

以下是电脑周边数码产品的一些常用石英晶振频率
电脑周边配件
1,主板主要用到晶振频率为:14.318MHZ,24576,25MHZ,27MHZ,32.768KHZ
2,显示器主要用晶振频率为:8M/14.31818MHZ,12.000MHZ,24.000MHZ,28.224MHZ
3,硬盘主要用晶振频率为:23.040MHz,28.224MHz
4,光驱主要用晶振频率为:33.8688MHz,16.9344MHz,18.432MHz
5,键盘主要用晶振频率为:6.000MHz
6,鼠标主要用晶振频率为:6.000MHz,12.000MHz,24.000MHz,无线鼠标频率很多,读卡器等
7,摄像头主要晶振的频率为:12.000MHz
8,蓝牙主要用晶振频率为:16.000MHz
9,无线WIFI主要用到的频率为:25.000MHz,2.5G/3G（40.000MHz,44.000MHz）网络传输
10,ADSL主要用到的频率为:12.288MHz,35.328MHz,50.000MHz而且包含VOIP/存储/显示/图像/网络等等系列产品.

TH-2 890

TAITIEN晶振规格	单位	X7晶振频率范围	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	4-40MHZ	标准频率
储存温度	T_stg	-55°C ～ +125°C	裸存
工作温度	T_use	-40°C ～ +85°C	标准温度
激励功率	DL	500μW Max.	推荐:1μW ～ 100μW
频率公差	f_— l	±3 × 10^-6 (标准), (±1.5 × 10^-6 ～ ±5 × 10^-6 可用)	+25°C 对于超出标准的规格说明, 请联系我们以便获取相关的信息,http://www.smdcrystal.com/
频率温度特征	f_tem	±30 × 10^-6/-20°C ～ +70°C	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	7PF	超出标准说明,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R₁	如下表所示	-40°C — +85°C, DL = 100μW
频率老化	f_age	±0.5× 10-6~±1 × 10^-6 / year Max.	+25°C,第一年

TH-3 890

X7_TO-8 15_6.5

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作为一家专业生产石英晶振的企业泰河电子对于所有生产的每一粒晶振都会经过每道工序严格的赛选,检测,跌落,老化,最后出厂全部检测等多道工序,确保出厂产品达到%100合格.泰河电子拥有全无尘车间,引进国外多款全自动功能生产检测,高端仪器设备,选择泰河电子晶振产品是你的放心首选.
晶振检测各项指标,氦气泄漏检测器3×10-8— rr•1 / s或更小的泄漏试验以测量以下
把石英晶振存放在温度为-40±3?C时间为24小时.然后,它应当受到标准a— mspheric条件为1h,之后测量应.测试后ESR应满足规范.后的测试频率.应±5 PPM.
高温检测石英晶振存放在温度为+85±2?C时间为24小时.然后,它应当受到标准a— mspheric条件为1h,之后测量.测试后ESR应满足规范.后的测试频率.应±5 PPM.
正常石英晶振应储存在温度为-40±2?C,相对湿度为90％至95％为48小时.然后,它应当受到标准stmospheric条件为1h,之后测量应.测试后ESR应满足规范.后的测试频率.应±5 PPM.试验后的绝缘电阻应在接受规范.
温度变化石英晶振应进行连续5次变化的温度循环,分别如下表所示.然后,它应当受到标准大气条件为1h,之后测量应.测试后ESR应满足规范.后的测试频率.应±5 PPM.
老化的石英水晶振子应储存在温度为-85±3?C720H（30天）±12小时.然后,它应当受到标准stmospheric条件为1h,之后测量应.测试后ESR应满足规范.后的测试频率.应±10 PPM.

激励功率
在晶体单元上施加过多驱动力，会导致产品特性受到损害或破坏。电路设计必须能够维持适当的激励功率（请参阅“激励功率”章节内容）。
负极电阻
除非振荡回路中分配足够多的负极电阻，否则振荡或振荡启动时间可能会增加（请参阅“关于振荡”章节内容）。
负载电容
振荡电路中负载电容的不同，可能导致振荡频率与设计频率之间产生偏差。试图通过强力调整，可能只会导致不正常的振荡。在使用之前，请指明该振动电路的负载电容（请参阅“负载电容”章节内容）。
晶体振荡器和实时时钟模块

所有晶体振荡器和实时时钟模块都以IC形式提供。

噪音

在电源或输入端上施加执行级别(过高)的不相干(外部的)噪音，可能导致会引发功能失常或击穿的闭门或杂散现象。

电源线路

电源的线路阻抗应尽可能低。

输出负载

建议将输出负载安装在尽可能靠近振荡器的地方（在20 mm范围之间）。

未用输入终端的处理

未用针脚可能会引起噪声响应，从而导致非正常工作。同时，当P通道和N通道都处于打开时，电源功率消耗也会增加；因此，请将未用输入终端连接到VCC 或GND。

热影响

重复的温度巨大变化可能会降低受损害的晶体单元的产品特性，并导致塑料封装里的线路击穿。必须避免这种情况。

安装方向

振荡器的不正确安装会导致故障以及崩溃，因此安装时，请检查安装方向是否正确。

通电

不建议从中间电位和/或极快速通电，否则会导致无法产生振荡和/或非正常工作。

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联系方式/CONTACT US

泰河电话服务热线：0755-27872782 13824306246

泰河传真贸易通：泰河科技

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