SG2520VHN差分晶振X1G005941000115是小型光通信模块的理想选择

日本爱普生晶振型号VG3225EFN，是一款LV-PECL输出差分晶振，采用3225mm封装六脚贴片晶振，具有电压控制功能，小体积轻薄型，高精度，低抖动，低功耗，低损耗，低耗能，低电源电压，起振快等特点，此款6脚压电控制晶振频率选用范围从25M至250MHZ，被广泛用于无线基站，移动通信，高端智能设备，5G通讯设备，GPS，汽车电子等.

VG3225EFN压电控制晶振X1G005361000100用于无线基站应用

石英晶体谐振器，简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体（又称水晶）的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件。该元件主要由石英晶片、基座、外壳、银胶、银等成分组成。

日本爱普生晶振TSX-3225这款高精度四脚贴片晶振，3225mm石英晶体谐振器应用很广泛的，而且可以说是性价比较高的，业内人都知道，虽然已经开发出2520甚至小尺寸2016无源晶振，但是尺寸更小，也代表着制造工艺越发繁琐和成本的增高，现在很多便携式产品需要尺寸小，高性能，寿命长，价格适中的贴片晶振，3225已经相对而言属于小尺寸晶振，可以满足便携式设备的要求，价格也比2520，2016要低，厉害的是，3225无源晶振的成本比5032的也低，所以说TSX-3225是性价比的选择。

高精度四脚贴片晶振X1E000021014416非常适合便携式设备应用

爱普生是日本有名的频率元件制造商，专业生产销售石英晶振，贴片晶振，石英晶体谐振器，晶体振荡器，晶体滤波器等。发展至今已是国际有名的晶体元件制造商，致力于为客户提供高性能，高可靠，高品质晶振产品。

爱普生晶振FA-238V是一款小体积尺寸3.2x2.5mm四脚贴片晶振，无源晶振，石英晶体谐振器，频率范围:12.000MHz至15.999MHz，工作温度范围:-40℃至+85℃（+105℃），3225mm体积非常小的SMDcrystal器件，是民用小型无线数码产品的最佳选择，具有超小型，轻薄型，耐热及耐环境特性。小体积的晶振被广泛应用到，手机蓝牙，移动电话，无线通讯集，无线-局域网，是民用无线数码产品最好的选择，符合RoHS/无铅.

无源晶振Q22FA23V0025500是民用无线数码产品最好的选择

石英晶体谐振器，简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体（又称水晶）的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件。该元件主要由石英晶片、基座、外壳、银胶、银等成分组成。

爱普生晶振FA-238是一款小体积尺寸3.2x2.5mm无源晶振，石英晶体谐振器，四脚贴片晶振，频率范围16MHz至60MHz，工作温度范围-40℃至+85℃（+105℃），具有超小型，轻薄型，耐热及耐环境特点，SMD3225贴片晶体谐振器Q22FA2380008900特别适用于小型便捷式移动通讯，可穿戴设备，智能手机，平板电脑，便捷式电子仪器，汽车电子，智能家居等。

智能家居应用晶振Q24FA20H0035200石英晶体谐振器

在这个智能化的社会系统里，晶振为数字电路系统提供基本的时钟信号，称之为数字电路的心脏。物联网在智能家居、智慧城市、可穿戴设备等领域正带来数以十亿计的新设备，晶振是数字终端必不可少的基础器件之一，是物联网应用的上游行业。

爱普生晶振SG7050EEN，小体积晶振尺寸7.0x5.0mm六脚贴片晶振，有源晶振，支持LV-PECL输出差分晶振，频率范围25MHz至200MHz，电源电压2.5V,3.3V，小体积轻薄型，具有极低的相位抖动和功耗，以实现出色的相位噪声。被广泛用于5G通信设备，物联网，智能家居，手机，GPS定位，汽车导航，安防设备，可穿戴设备等。

LV-PECL输出差分晶振X1G005131100900专用于物联网设备

爱普生X1G005471001100压控晶振具有LV-PECL差分输出,5032mm晶振

TG-5006CJ晶振编码X1G004131001000具有超小型2016mm温补晶体振荡器

日本进口爱普生晶振SG3225EEN，小体积晶振尺寸3.2x2.5mm有源晶振，是一款小体积六脚贴片晶振，频率范围可提供25M~200MHZ任一频点，2.5V,3.3V具有低电源电压,满足产品低消耗电流的特点，LV-PECL晶振，具有低电平,低抖动,低功耗等特性.差分晶振作为目前行业中高要求,高技术石英晶体振荡器,具有相位低,损耗低的特点,该产品中能够很容易地识别小信号,能够从容精确地处理双级信号,对外部电磁干扰(EMI)是高度免疫的,差分石英晶振满足市场需求,实现高频高精度等要求,更加保障了各种系统参考时钟的可靠性。

SG3225EEN晶振编码X1G005221000200差分晶振具有低消耗电流的特点

伊利诺伊州莱尔–CTS公司（纽约证券交易所代码：CTS）宣布推出一款新的TCXO晶振，其工作频率为32.768kHz，适用于需要精密实时时钟参考的应用。TT32型四脚贴片晶振提供非常严格的频率稳定性，在-40℃至+85℃范围内为±5.0ppm，可在温度变化时保持准确的时间；与使用具有经典抛物线温度曲线、+25℃转换点和-0.035ppm/℃ 2温度系数的音叉谐振器的简单晶体器件相比。

CTS发布32.768kHz TCXO用于实时时钟应用,TC32M5I32K7680,低功耗晶振

亚陶晶振KX201系列实时时钟振荡器在广泛的工作条件下实现了卓越的稳定性。它利用Pericom专有技术实现低于30μA的超低电流。输出时钟信号与LVCMOS/LVTTL逻辑电平兼容。该器件采用卷带包装，采用2.0x1.6mm表面贴装陶瓷封装。

特征：
AT Cut 32.768kHz XO
CMOS兼容逻辑电平
超低有功电流（< 30μA）
非常严格的温度稳定性
专为标准回流和清洗技术而设计
无铅且符合 RoHS/Green 标准
应用：需要低电流和高度稳定性的实时时钟振荡器

亚陶晶振KX201系列在广泛的工作条件下实现了卓越的稳定性,KX201VIS032.768000时钟振荡器

大真空旗下两款基站用Oscillator性能详细剖析介绍.

DC7050AS和DSA/DSB535SGA是大真空旗下的可用于通信基站的石英晶振产品,其中DC7050AS是一款恒温晶振, DSA/DSB535SGA中DSA系列是压控温补晶振,DSB系列是温补晶振系列;对于通信基站来说,工作环境的复杂性决定了它所使用的晶体频控元件必须是能够承受复杂环境所带来的的影响.

石英晶体谐振器在电子学中的重要性在于其极高的Q值、相对较小的尺寸和优异的温度稳定性。

石英晶体谐振器利用石英的压电特性直接压电效应是指机械应力作用下某些材料产生的电极化效应。逆效应是指同一材料在电场作用下产生的变形。

在石英晶体谐振器中，在两个电极之间放置一薄片石英，其相对于晶体轴以适当的方向切割。施加在这些电极上的交流电压会使石英同时振动。伴随而来的极化变化构成了通过谐振器的电位移电流。

当外加电压的频率接近石英薄片的机械共振频率之一时，振动的振幅变得很大。伴随的位移电流也会增大，因此器件的有效阻抗会减小。在石英晶体谐振器作为晶体振荡器的频率控制元件的应用中，阻抗随共振附近频率的变化而迅速变化是关键因素。

在电气方面，石英晶体可以用图1中的等效电路表示，其中串联组合r1、l1和c1表示压电效应对阻抗的贡献，c0表示电极之间的并联电容以及任何杂散保持器电容。电感l1是石英质量的函数，而电容c1与其刚度相关。电阻r1是石英和安装装置损耗的结果。等效电路的参数测量精度可达1%左右。

等效电路的电抗频率图如图2所示。晶振性能的相关公式有很多，其中第一个是fs。这是晶体串联共振的频率，由下式给出： 

其中fs以赫兹表示，l1以亨利表示，c1以法拉表示。 

典型晶体参数值

校准公差

校准公差是晶体在特定温度、基准温度（通常为25°C）下频率的最大允许偏差。

频率稳定性

晶振不稳定有多种原因。温度变化和质量的物理变化导致了我们称之为老化的长期漂移，这可能是我们最关心的问题。

通过适当选择晶振切割和（对于严格的公差要求）在晶振电路中包括与温度相关的电抗，或在小烤箱中保持恒定温度，可将温度变化的影响降至最低。at-cut晶体是当今应用最广泛的晶振，因为它们的频率-温度曲线家族很容易以低成本为所有应用（除了最苛刻的应用）提供良好的性能。

未补偿的AT切割晶体可以在-10°C到60°C的范围内规定公差为±5ppm，更宽的温度范围需要更大的公差，如图3所示，显示了AT切割频率温度曲线的典型系列这些曲线可以用三次方程表示，并且强烈依赖于石英坯料的切割角度零温度系数的点称为上下拐点通过选择切割角度，可以将一个转折点放置在需要的位置；然后固定另一个转折点，因为这两个转折点在20°~30°C范围内的某个点上是对称的。转弯点之间的坡度随着它们一起移动而变小。设计用于烘箱的晶体被切割，以便上转折点与烘箱工作温度一致。

图4显示了几个低频切割的频率-温度曲线。J-cut在10kHz以下使用，而XY-cut可以在3kHz到85kHz之间使用。可在10KHz范围内使用NT切割。dt-cut适用于100khz至800khz左右，ct-cut适用于300khz至900khz。

负载电容

晶振可以由其制造商在fr处进行校准，在fr处它们看起来是电阻的（或非常接近fr的fs），或者在与电容性负载共振时，它们当然必须是电感的。后一种情况称为负载共振，通常用符号fl表示；更具体地说，符号f30，例如，表示晶体与30pF电容性负载共振的频率。

晶体电抗曲线上需要校准的点由电路结构决定一般来说，振荡器中的非反相保持放大器需要在fr处校准，而反相放大器需要在“负载电容”cl的某个值处校准。后一种配置依赖于电感晶体以及与之共振的负载电容，提供180度的相位偏移。

该规则最常见的例外是，当小电容器（例如变容二极管）与非反相放大器电路中的晶体串联以提供一定程度的频率调整时。在这种情况下，必须用电容的平均值校准晶体的共振。

 可拉性 

晶体的可拉性是在给定的负载电容变化下测量其频率变化的一种方法。这通常表示为串联谐振频率（fr）和负载谐振频率（fL）之间的差异该偏移量可使用分数负载谐振频率偏移量（dl）以百万分之几计算，即给定值cl时，从fr到fl的实际频率变化。

  其中C1，C0和CL均以相同单位表示。图5显示了频率变化相对于负载电容变化的影响的典型曲线。

 另外，通常将晶体的可拉性表示为修整灵敏度，单位为ppm / pF负载电容变化。 通过ppm / pF给出：

其中C1，C0和CL以pF为单位，并且在图6中以图形方式显示了（C0 + CL）的各种值。

The 'ageing' of a quartz crystal results in a small change of frequency over time and this effect may have to be taken into account by the customer when designing their circuit depending upon the overall specification that needs to be achieved. There are two main causes of ageing in quartz crystals, one due to mass-transfer and the other due to stress.

Mass-Transfer

Any unwanted contamination inside the device package can transfer material to or from the SMD CRYSTALcausing a change in the mass of the quartz blank which will alter the frequency of the device. For example, the conductive epoxy used to mount the quartz blank can produce 'out-gassing' which can create oxidising material within the otherwise inert atmosphere inside the sealed crystal package and so this production process must be well controlled. Ideally the manufacturing method is as clean as possible to negate any effects and give good ageing results.

Stress

This can occur within various components of the crystal from the processing of the quartz blank, the curing of the epoxy mounting adhesive, the crystal mounting structure and the type of metal electrode material used in the device.Heating and cooling also causes stress due to different expansion coefficients. Stress in the system usually changes over time as the system relaxes and this can cause a change in frequency.

Ageing in practice

When looking at example ageing test results of crystals,it can be seen that the change in frequency is generally greatest in the 1st year and decays away with time. It must be noted however that for example if a device is specified at ±5ppm max per year; it does not follow that the ageing after 5 yrs will be ±5ppm x 5yrs, i.e. ±25ppm. In practice,the example ±5ppm ageing device may be only ±1ppm to ±2ppm in the 1st year of operation and then reduces over subsequent years. It is common to use a general 'guide-rule' for crystal ageing of ±10ppm max over 10 years although in reality it is usually much less than this. It is impossible to predict the exact ageing of a device as even parts made at the same time and from the same batch of quartz will exhibit slightly different ageing characteristics.The production process must be consistent from part to part, from the manufacture of the quartz blank, the electrode size and its placement, to the epoxy used to mount the quartz and its curing thermal profile, all have a slight affect on frequency. Devices can age negatively or positively depending upon the internal causes although parts from one batch tend to follow similar results. Generally the ageing effect is negative in over 90% of parts manufactured.

Accelerated ageing

It is common industry practice to use an accelerated ageing process to predict long term frequency movement by soaking devices at elevated temperatures and measuring frequency movement at relevant intervals. It is normal to test crystals using a passive test (i.e. non-powered). The general rule used is that soaking a crystal at +85℃ for 30 days is equivalent to 1 year of ageing at normal room temperature. If this test is extended for enough time then the recorded data can be plotted graphically to enable via extrapolation, the prediction of future long term ageing.

Frequency adjustment

Note that the ageing of quartz effectively changes the frequency tolerance of the crystal and does not directly influence the stability of the quartz over temperature to any great degree as this parameter is dictated by the 'cut-angle' of the quartz used. If using quartz oscillators that have a voltage-control function such as VCXOs, TCXOs or OCXOs, the output frequency can be adjusted back to its nominally specified value.

Design

The engineer designing a circuit using either a crystal or oscillator will generally know what overall stability figure their equipment must meet over a particular time period.

As the tolerance and/or stability of a device decreases then the more important ageing becomes. For example using a TCXO at ±1ppm stability over temperature will require ageing to be kept to relatively small values. However, if the total frequency movement allowance of a design is for example ±200ppm and a device with a rating of ±100ppm is used then a small amount of ageing can effectively be ignored.